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X射线荧光光谱分析之x射线强度的测量
时间:2016-03-09      阅读:1586
     X射线荧光光谱分析要进行定量分析必须测量特征x射线的强度,找出浓度与强度的关系,然后进行定量分析。
 
    测量x射线强度时,原则上应当测量分析线下的积分强度,但在波长色散型X射线荧光光谱仪上,晶体一次只能使一种波长的x射线发生衍射而进入探测器。因此测量分析线峰下的积分强度很不方便,而且很费时间,然而位于zui大强度的2θ位置上的峰值强度可以代表谱线的积分强度,这样测量就很方便。
 
    测量的方法有三种:
 
1、定时计数法:在预定时间T内,记录x射线的光子数N,强度为I=N/T。定时器和计数器同时起动,定时时间到,计数器同时停止。
 
2、定数计时法:预先设定总计数N,定时器和计数器同时起动,当达到所需的计数N时,定时器和计数器同时停止,记录定时器的时间T,强度为I=N/T。
 
3、积分计数法:测量峰下的积分强度。先将测角器调至被测元素衍射峰的一侧,测角器、定时器、计数器同时启动,当衍射峰全部扫描完时,测角器,定时器和计数器同时停下,记录总计数N和扫描时间T,计算出强度为I=N/T。
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